[发明专利]显示模组的缺陷检测方法及设备在审

专利信息
申请号: 202110834561.1 申请日: 2021-07-22
公开(公告)号: CN113466292A 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 刘文波;王文飞;王俊 申请(专利权)人: 苏州华兴源创科技股份有限公司
主分类号: G01N25/72 分类号: G01N25/72;G06T7/00;G06T7/70
代理公司: 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 代理人: 韩晓园
地址: 215000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明揭示了一种显示模组的缺陷检测方法及设备。所述方法包括以下步骤:获取缺陷显示模组在未进行通电检测状态下的第一热成像图片和缺陷显示模组在通电检测状态下的第二热成像图片;通过对比第一热成像图片和第二热成像图片获取缺陷显示模组的缺陷的位置信息。所述设备包括:承载装置、检测装置、缺陷定位装置,缺陷定位装置包括定位机构、图像获取机构;定位机构包括第一定位单元和第二定位单元,第一定位单元和第二定位单元均为热成像相机。本发明通过第二定位单元获取第一热成像图片和第二热成像图片,通过对比第一热成像图片和第二热成像图片可精确获取缺陷的位置信息。
搜索关键词: 显示 模组 缺陷 检测 方法 设备
【主权项】:
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