[发明专利]一种测试超低背景散射的弱光探测系统在审

专利信息
申请号: 202110836136.6 申请日: 2021-07-23
公开(公告)号: CN113551877A 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: 马冬林;范子超;赵璐佳 申请(专利权)人: 深圳华中科技大学研究院
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01J1/42;G01J1/04
代理公司: 北京睿智保诚专利代理事务所(普通合伙) 11732 代理人: 龙涛
地址: 518000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种测试超低背景散射的弱光探测系统,包括:光源模块、参考光束模块、分束镜模块、4f系统模块和探测器模块;所述光源模块发出的光经过分束镜模块分成两束,一束光经过所述参考光束模块进入所述探测器模块,另一束光射到待探测系统产生杂散射光,杂散射光再经过所述分束镜模块和所述4f系统模块进入所述探测器模块。本发明具有超高的敏感度,且系统本身具有超低的背景噪声。
搜索关键词: 一种 测试 背景 散射 弱光 探测 系统
【主权项】:
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