[发明专利]晶体定向方法、装置及晶体加工方法有效

专利信息
申请号: 202110838522.9 申请日: 2021-07-23
公开(公告)号: CN113433146B 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 冯江河;刘睿恒;邱国娟 申请(专利权)人: 深圳先进电子材料国际创新研究院
主分类号: G01N23/20016 分类号: G01N23/20016;G01N23/20025
代理公司: 北京市诚辉律师事务所 11430 代理人: 范盈;李玉娜
地址: 518103 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种晶体定向方法及装置,属于晶体定向技术领域。所述装置包括X射线衍射仪和搭载于X射线衍射仪的基台,基台上设置有待测晶体搭载区、水平翻转机构、轴向旋转机构和竖直升降机构。定向方法包括:放置待测晶体于基台上;全谱范围内对待测晶体进行衍射;小角度调节水平翻转机构和轴向旋转机构,记录X射线衍射仪对待测晶体不同晶面的衍射强度;预判目标晶面所需的基台调整角度和旋转方向,调节并微调做衍射,直至衍射谱中只保留目标晶面的衍射峰。本发明比劳埃衍射仪法和定向仪法更加便捷;能够精确获取所需晶面;成本低,无需其他辅助设备。本发明还公开了根据上述晶体定向方法的晶体加工方法。
搜索关键词: 晶体 定向 方法 装置 加工
【主权项】:
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