[发明专利]基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法在审
| 申请号： | 202110840233.2 | 申请日： | 2021-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN113791134A | 公开（公告）日： | 2021-12-14 |
| 发明（设计）人： | 黄昊;刘兰;廖若杭;张爱权 | 申请（专利权）人： | 厦门市承谱科学仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/64 | 分类号： | G01N27/64;G01B5/02;H01J49/40 |
| 代理公司： | 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 | 代理人： | 张素斌 |
| 地址： | 361101 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶面调平与校准方法，包括以下步骤：1)将可调悬臂的一端可旋转地安装于调平基座上，可调悬臂的另一端与千分表连接，然后在标准平面上校准千分表读值；2)将标准靶板置于靶板平台上，调平基座轻放在调平基准面上，使千分表触碰标准靶板靶面；3)读取千分表数值并旋转靶板平台底部的调节螺钉，调整标准靶板靶面高度；4)重复步骤3)，调整底部的调节螺钉，使靶面达到标准高度且与调平基准面平行；5)通过上位机采集图谱数据与标准图谱数据进行对比，调节仪器电参数，校正靶面高度误差。该方法不但使样品靶的安装变得更加快捷，同时也减小后续频繁更换靶板带来的误差，保证仪器的分辨率和质量轴稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 基质 辅助 激光 解析 飞行 时间 质谱仪 靶面调平 校准 方法 | ||
【主权项】：
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