[发明专利]芯片状态检测方法和系统、电子设备及可读存储介质有效

专利信息
申请号: 202110851473.2 申请日: 2021-07-27
公开(公告)号: CN113608951B 公开(公告)日: 2023-10-03
发明(设计)人: 江辉 申请(专利权)人: 际络科技(上海)有限公司
主分类号: G06F11/26 分类号: G06F11/26;G06F11/22;G06F7/58;G06F13/42;G06F15/78
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 蒋娟
地址: 202150 上海市崇明区长*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种芯片状态检测方法和系统、电子设备及可读存储介质,其中所述方法包括:S1、在预设控制周期的任务中,将采用随机数产生方法产生的随机数发送给第二芯片,基于随机数,在第一芯片的第一应答表中读取到第一应答数;S2、当第二芯片收到随机数后,接收由第二芯片基于随机数、在第二芯片的第二应答表中读取到的第二应答数;S3、在下一个预设控制周期的任务中,比较第一应答数和接收到的第二应答数是否相同;S4、若相同,则将下一个预设控制周期作为预设控制周期并返回S1;S5、若不相同,则检测出第二芯片出错。本发明可以实现在引入多颗芯片以后,用其中的第一芯片来统筹管理整个控制器中其他芯片的运行状态。
搜索关键词: 芯片 状态 检测 方法 系统 电子设备 可读 存储 介质
【主权项】:
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