[发明专利]一种六氟化硫密度继电器校验仪p20在审

专利信息
申请号: 202110851706.9 申请日: 2021-07-27
公开(公告)号: CN113466084A 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 杨海燕;王志浩;李哲毓;张倩;赵蒙;关建航;韦宣;瞿丽莉 申请(专利权)人: 西安热工研究院有限公司
主分类号: G01N9/00 分类号: G01N9/00
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 闵岳峰
地址: 710048 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种六氟化硫密度继电器校验仪p20示值误差检测方法,其特征在于,包括以下步骤:1)对六氟化硫密度继电器校验仪的压力示值和温度示值进行检测,压力示值和温度示值均满足要求后,方可进行p20示值误差的检测;2)对六氟化硫密度继电器校验仪的p20示值误差进行检测,p20示值误差必须满足其准确度等级的要求。本发明是针对六氟化硫密度继电器校验仪的p20示值误差,提供了一种检测方法。通过该方法检测六氟化硫密度继电器校验仪的p20示值,使SF6密度继电器的量值得到准确的溯源,确保高压电气设备安全稳定运行。
搜索关键词: 一种 六氟化硫 密度 继电器 校验 base sub 20
【主权项】:
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