[发明专利]一种集成纳米片结构、SRAM单元及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110853449.2 申请日: 2021-07-27
公开(公告)号: CN113690238A 公开(公告)日: 2021-11-23
发明(设计)人: 李聪;李高鹏;郭增光;汤正光;李振荣 申请(专利权)人: 西安电子科技大学重庆集成电路创新研究院
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;H01L27/02;H01L27/11;H01L21/8238;B82Y40/00;B82Y10/00
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 刘长春
地址: 401332 重庆市沙坪*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明提供的一种集成纳米片结构、SRAM单元及其制备方法,采用多层堆叠工艺将PMOS与NMOS堆叠在同一区域内,同时提升有效沟道宽度,增强栅控能力。因此本发明可以实现高度集成、减小CMOS电路面积,提高系统集成度,从而降低超大型集成电路成本。
搜索关键词: 一种 集成 纳米 结构 sram 单元 及其 制备 方法
【主权项】:
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