[发明专利]一种集成电路测试板在审
| 申请号： | 202110859335.9 | 申请日： | 2021-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN113640646A | 公开（公告）日： | 2021-11-12 |
| 发明（设计）人： | 孙瑞 | 申请（专利权）人： | 孙瑞 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 362100 福建省泉*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路测试板，其结构包括托盘、顶盖、套槽、旋转把手、底座，托盘上设置有套槽，且通过旋转把手转动配合在底座上，顶盖安装在套槽上，套槽包括架体、推座、夹具、纠偏组件、扣齿，架体通过旋转把手与夹具间接配合，且连接有推座，推座连接有扣齿，扣齿与纠偏组件间接配合，在纠偏组件上设置有拉举结构和侧夹装置，利用拉举结构和侧夹装置在调节格内相配合，当芯片一侧倾斜脱离与套槽内侧的测试位置时，另一侧将会滑动挤压拉举结构靠近调节格底部的弯折处，使得拉举结构配合侧夹装置带动芯片同侧下降延展，增大接触面积，有效对其进行稳固的夹持。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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