[发明专利]一种电连接器贮存条件下接触电阻的计算方法在审
| 申请号： | 202110860398.6 | 申请日： | 2021-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN113567744A | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 钟立强;樊星;陈文华;钱萍;梁淑雅;陈哲文;郭鸿杰 | 申请（专利权）人： | 浙江理工大学 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙) 33231 | 代理人： | 张宇娟 |
| 地址： | 310016 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种考虑离散应力的电连接器接触性能退化过程的模拟方法，包括：S1，对电连接器接触表面进行测定得到三维W‑M函数的初始值；S2,基于三维W‑M函数建立两个接触表面模型；S3，基于两个接触表面模型得到两个剖面骨架图；S4，基于预设分量在两个剖面骨架图的对应位置分别选择两条二维曲线，并比较二维曲线的高度，从而判断接触表面产生的是膜层电阻或收缩电阻；以及确定接触斑点与氧化膜斑点的数量和直径；S5，重复执行步骤S4，直至完成X轴区间范围所有二维曲线的选取，从而确定所有氧化膜斑点和接触斑点数量；S6，基于每个接触斑点和氧化膜斑点的直径、所有接触斑点与氧化膜斑点的数量计算得到接触电阻值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 连接器 贮存 条件下 接触 电阻 计算方法 | ||
【主权项】：
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