[发明专利]测试装置在审

专利信息
申请号: 202110866169.5 申请日: 2021-07-29
公开(公告)号: CN113777466A 公开(公告)日: 2021-12-10
发明(设计)人: 梁雨泉;张琦杰;邱国志 申请(专利权)人: 杭州长川科技股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 郑梦建
地址: 310051 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及电子元件测试技术领域,特别是涉及测试装置。一种测试装置,用于测试电子元件,包括测试台及电路板,所述电路板与所述测试台电性连接;所述测试台上开设有进气孔、出气孔及气体流道,所述气体流道分别与所述进气孔及所述出气孔连通,气体能够从所述进气孔进入所述气体流道,从所述出气孔流出向并接触所述电路板,以将所述电路板的温度控制在‑10℃‑100℃范围之内。本发明的优点在于:如此设置,能够保护电路板及电路板上的元器件免受高温影响,延长寿命,同时能够缓解电路板结霜的问题,防止电路板短路,并且,能够降低电路板及电路板上的元器件的选型要求。
搜索关键词: 测试 装置
【主权项】:
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