[发明专利]耳机产测校准方法、设备、耳机测试系统及存储介质在审

专利信息
申请号: 202110866664.6 申请日: 2021-07-29
公开(公告)号: CN113613158A 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 黎兴荣 申请(专利权)人: 黎兴荣
主分类号: H04R29/00 分类号: H04R29/00
代理公司: 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 代理人: 刘冰
地址: 518000 广东省深圳市龙岗区五*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开一种耳机产测校准方法、设备、耳机测试系统及存储介质,其中,耳机产测校准方法,应用于耳机测试系统,耳机测试系统包括:用于对待测耳机进行测试的测试设备,测试设备与待测耳机通信连接;耳机产测校准方法包括:控制测试设备向待测耳机发送测试信号;基于测试信号,以及待测耳机与测试设备的交互信号,计算待测耳机的校准参数;将校准参数发送至待测耳机;控制待测耳机配置校准参数至待测耳机,并控制测试设备对配置校准参数后的待测耳机进行测试。本申请旨在解决耳机在现有产测方法中产品良率不高的问题。
搜索关键词: 耳机 校准 方法 设备 测试 系统 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
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