[发明专利]半导体器件及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202110875857.8 申请日: 2021-07-30
公开(公告)号: CN113594161A 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 苏炳熏;杨展悌;叶甜春;罗军;赵杰;薛静 申请(专利权)人: 广东省大湾区集成电路与系统应用研究院;澳芯集成电路技术(广东)有限公司
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;H01L21/8238
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 姚璐华
地址: 510535 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种半导体器件及其制作方法,所述半导体器件包括:半导体衬底;设置在所述半导体衬底内的N型阱区;设置在所述N型阱区背离所述半导体衬底表面内的P型阱区;所述P型阱区背离所述N型阱区的一侧具有多个器件模块,所述器件模块包括至少一个MOS单元;相邻所述器件模块之间具有深沟槽隔离结构;同一所述器件模块中,如果具有多个MOS单元,相邻所述MOS单元之间具有浅沟槽隔离结构;其中,所述深沟槽隔离结构的底部位于所述N型阱区内,所述浅沟槽隔离结构的底部位于所述P型阱区内。本发明通过设置双沟槽隔离结构,在减小区域面积的同时,可以增加设计弹性,使电路设计更加灵活,并且可以降低成本,提高器件性能,降低功耗。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制作方法
【主权项】:
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