[发明专利]存储器装置及其具有修复信号维持机制的存储器测试电路与方法在审
| 申请号： | 202110884721.3 | 申请日： | 2021-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN115705907A | 公开（公告）日： | 2023-02-17 |
| 发明（设计）人： | 林盛霖;林士杰 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44;G11C29/10;G11C29/00;G11C11/417 |
| 代理公司： | 北京市君合律师事务所 11517 | 代理人： | 王再芊;毕长生 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种具有修复信号维持机制的存储器测试电路。该修复控制电路控制存储器内建自修复电路对存储器电路进行内建自修复程序，并包括：重新映射暂存电路及闩锁暂存电路。当内建自修复程序完成后，重新映射暂存电路接收从存储器内建自修复电路产生的修复信号并进行暂存。闩锁暂存电路电性耦接于重新映射暂存电路及对应于存储器电路的重新映射电路之间，从重新映射暂存电路接收并保存修复信号，以当重新映射暂存电路根据扫描链进行扫描测试时，使重新映射电路存取修复信号，并根据修复信号以及冗余结构对存储器电路重新映射进行修复。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 装置 及其 具有 修复 信号 维持 机制 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
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