[发明专利]一种集成电路芯片测试方法及其设备在审
| 申请号： | 202110889114.6 | 申请日： | 2021-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN113625020A | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 徐梓杨 | 申请（专利权）人： | 徐梓杨 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司： | 南昌逸辰知识产权代理事务所(普通合伙) 36145 | 代理人： | 刘林艳 |
| 地址： | 330000 江西省南*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 一种集成电路芯片测试方法及其设备，涉及集成电路测试技术领域；包括输送箱，输送箱内部安装有循环转动的传送带，传送带内部设有工型架，输送箱顶部对应传送带安装有检测箱，检测箱内部安装有电动推杆驱动进行上下移动的检测设备，输送箱后侧安装有输出箱，检测箱与输出箱之间固定安装有充放气泵，输出箱内下端固定安装有T状的分类输送台，分类输送台的T型路口中心安装有可旋转的转向输送轮，分类输送台位于T型路口中心外侧均转动连接有输送滚轮，导向板上端设有受充放气泵充气浮动的缓冲板。解决现有技术中集成电路芯片在输送过程中易损坏，并且检测完成的集尘电路芯片不便分类输出的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 芯片 测试 方法 及其 设备 | ||
【主权项】：
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