[发明专利]一种平面度测量仪及方法在审
申请号: | 202110890885.7 | 申请日: | 2021-08-04 |
公开(公告)号: | CN113739725A | 公开(公告)日: | 2021-12-03 |
发明(设计)人: | 顾德坤;刘晶;张豪;王传兵;徐先祥 | 申请(专利权)人: | 武汉华中数控股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 郑飞 |
地址: | 430223 湖北省武汉市东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及平面度测量技术领域,为一种平面度测量仪及方法,包括:控制器、机械手、激光测距器及用于装夹待测工件的测量台;测量台处于至少一个机械手抓放工件的测量工位上,各机械手用于将待测工件从毛坯位抓取并放置于测量台上,且还用于控制机械手抓取、放下测量合格工件至成品位,或抓取、放下测量不合格工件至废品位;测量工位位于激光测距器的测量轨迹上,激光测距器用于测量该激光测距器至测量工位上的待测工件之间的距离值;控制器用于根据激光测距器测量得到的距离值判断待测工件是否合格。可以实现工件平面度测量各个工序的自动化,即提高了测量精度和测量效率,又节省了人力成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 平面 测量仪 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉华中数控股份有限公司,未经武汉华中数控股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110890885.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。