[发明专利]一种可分离电离层多模式混合传播的短波阵列天线衰落一致性测量方法有效
| 申请号： | 202110900538.8 | 申请日： | 2021-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN113676276B | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 金珠;马银圣;赵天然;任源博;董雪 | 申请（专利权）人： | 中国电波传播研究所（中国电子科技集团公司第二十二研究所）;西安电子科技大学 |
| 主分类号： | H04B17/391 | 分类号： | H04B17/391 |
| 代理公司： | 青岛博雅知识产权代理事务所(普通合伙) 37317 | 代理人： | 封代臣 |
| 地址： | 266107 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种可分离电离层多模式混合传播的短波阵列天线衰落一致性测量方法，包括如下步骤：步骤1，生成测量二进制序列：步骤2，对二进制序列进行2PSK调制：步骤3，发射测量信号：步骤4，使用短波阵列天线接收测量信号：步骤5，接收信号同步：步骤6，分离传播模式：步骤7，求解单阵列单元单模式的信道冲激响应：步骤8，计算各阵列单元间的衰落一致性。本发明所公开的测量方法，可以精确分离传输模式，从而准确测量短波阵列天线是否满足衰落一致性要求，为短波阵列天线的设计性能提供保障。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 可分离 电离层 模式 混合 传播 短波 阵列 天线 衰落 一致性 测量方法 | ||
【主权项】：
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