[发明专利]一种确定硅片导电类型的方法在审
申请号: | 202110902930.6 | 申请日: | 2021-08-06 |
公开(公告)号: | CN113655094A | 公开(公告)日: | 2021-11-16 |
发明(设计)人: | 魏星;李名浩;薛忠营 | 申请(专利权)人: | 上海新昇半导体科技有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | G01N27/04 | 分类号: | G01N27/04;G01R27/02 |
代理公司: | 北京磐华捷成知识产权代理有限公司 11851 | 代理人: | 谢栒 |
地址: | 201306 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: |
本申请公开了一种确定硅片导电类型的方法。所述方法包括:测量所述硅片的电阻率,以得到第一电阻率;将所述硅片在空气中放置预设时间;放置预设时间之后再次测量所述硅片的电阻率,以得到第二电阻率;通过比较所述第一电阻率和所述第二电阻率,判断所述硅片的导电类型。所述方法对于高电阻率(高于500ohm |
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搜索关键词: | 一种 确定 硅片 导电 类型 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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