[发明专利]一种高集成2.5D封装结构及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202110906696.4 申请日: 2021-08-09
公开(公告)号: CN113451292A 公开(公告)日: 2021-09-28
发明(设计)人: 马晓建;刘卫东;高瑞锋;苏亚兰;张婕 申请(专利权)人: 华天科技(西安)有限公司
主分类号: H01L25/18 分类号: H01L25/18;H01L23/48;H01L23/498;H01L21/50;H01L21/60
代理公司: 北京汇捷知识产权代理事务所(普通合伙) 11531 代理人: 宋鹤
地址: 710018 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及芯片封装技术领域,具体为一种高集成2.5D封装结构及其制造方法,包括Package Substrate和埋die的硅Interposer,所述埋die的硅Interposer的上下表面均开设有凹槽,所述埋die的硅Interposer的凹槽内设置有预埋芯片,埋die的硅Interposer和预埋芯片之间设置有胶水,埋die的硅Interposer的下表面设置有Package Substrate,埋die的硅Interposer的上表面的右侧设置有逻辑芯片,埋die的硅Interposer的上表面的左侧设置有HBM芯片,同时在埋die的硅Interposer的顶面和底面时贴装多个预埋芯片,提高产品电性表现,缩短了芯片和芯片之间的导通回路,方便提高电性能,通过堆叠或并排放置在具有硅通孔的埋die的硅Interposer顶部,埋die的硅Interposer可提供芯片之间的互联,从而增加整个2.5D封装的集成度。
搜索关键词: 一种 集成 2.5 封装 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
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