[发明专利]芯片测试防呆方法及系统在审
| 申请号： | 202110918095.5 | 申请日： | 2021-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN113359014A | 公开（公告）日： | 2021-09-07 |
| 发明（设计）人： | 王庚 | 申请（专利权）人： | 深圳英集芯科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 熊永强 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种芯片测试防呆方法及系统，应用于芯片测试系统，芯片测试系统包括测试机、控制器和分类机，测试机包括多个单板自动化测试设备ATE；该方法包括：控制器分别接收来自多个单板ATE的握手信号，得到多个握手信号，每个握手信号包括第一握手ID；控制器根据第一握手ID判断多个单板ATE是否与控制器握手成功；若多个单板ATE与控制器均握手成功，控制器进行芯片测试。本申请通过在单板ATE与控制器之间增加握手识别，当多个单板ATE与控制器均握手成功时，控制器才作为信号流通桥中转单板ATE和分类机发送的信号，从而实现对芯片测试过程中多接口的接线方式进行防呆，避免因接线错误造成的损失。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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