[发明专利]一种确定芯片测试工况的方法、装置及相关设备在审
| 申请号： | 202110932534.8 | 申请日： | 2021-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN113740705A | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 唐文涛 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327 | 代理人： | 王立娜 |
| 地址： | 300384 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明实施例所提供的确定芯片测试工况的方法、装置及相关设备，所述方法包括：获取测试芯片；循环执行预设测试工况下对所述测试芯片的测试和筛选，直至循环预设轮次；其中，对所述测试芯片的测试用于确定所述测试芯片中的缺陷芯片，对所述测试芯片的筛选用于选取并去除所述测试芯片中的缺陷芯片；根据所述预设轮次下确定的缺陷芯片的统计数据，判断所述缺陷芯片的统计数据是否符合缺陷芯片在相应轮次的检出规律；若所述缺陷芯片的统计数据符合缺陷芯片在相应轮次的检出规律，确定所述预设测试工况为备选测试工况，从而准确地确定出备选测试工况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 确定 芯片 测试 工况 方法 装置 相关 设备 | ||
【主权项】：
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