[发明专利]微控制器的存储器片上自检测系统及方法无效
| 申请号： | 202110938081.X | 申请日： | 2021-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN113628666A | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 王成;陈志军;万郁葱 | 申请（专利权）人： | 苏州旗芯微半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/42 |
| 代理公司： | 南京艾普利德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32297 | 代理人： | 陆明耀 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市虎丘区高*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种微控制器的存储器片上自检测系统及方法，所述系统包括：存储器后台故障侦测模块，所述存储器后台故障侦测模块通过系统总线与微控制器的存储器相连，所述系统总线中包括私有总线，所述存储器后台故障侦测模块通过所述私有总线在系统空闲期间定时读取所述微控制器的存储器数据并做错误检查和纠正处理。从而降低一些不常被系统访问到的数据存储器地址因发生单点故障引发多点故障而导致失效的概率。而且本发明的结构简单，仅需要少量硬件电路，不需要软件代码参与就可以达到延长微控制器使用寿命的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 控制器 存储器 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
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