[发明专利]生成测试用例的方法、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110950787.8 | 申请日： | 2021-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN113742221A | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 黄武 | 申请（专利权）人： | 芯华章科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327 | 代理人： | 李丽 |
| 地址： | 211500 江苏省南京市中国（江苏）*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开实施例提供一种用于生成测试用例的方法、电子设备及存储介质。该测试用例用于在逻辑系统设计的仿真过程中测试所述逻辑系统设计的多个功能单元。该方法包括：获取用于生成测试用例的约束条件；根据约束条件生成第一组测试用例，其中，第一组测试用例用于覆盖所述多个功能单元的一部分；基于第一组测试用例测试逻辑系统设计；确定测试的未覆盖功能单元和当前覆盖率；以及响应于当前覆盖率不满足预设测试覆盖率条件，根据未覆盖功能单元生成第二组测试用例。本公开实施例通过添加测试用例的生成约束条件，并依据测试结果修改约束条件以此控制后续生成的测试用例，从而减少测试用例生成的时间和空间开销，提高仿真测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 生成 测试 方法 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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