[发明专利]磁控溅射设备有效

专利信息
申请号: 202110952580.4 申请日: 2021-08-19
公开(公告)号: CN113667949B 公开(公告)日: 2023-07-25
发明(设计)人: 匡友元;张铢仓 申请(专利权)人: 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 黄舒悦
地址: 518132 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请提供一种磁控溅射设备,其包括:靶材和磁铁组件。所述磁性组件设置于所述靶材的一侧,所述磁铁组件包括第一磁铁,所述第一磁铁位于所述磁铁组件的第一端部,所述第一磁铁对应于所述靶材的端部设置,所述第一磁铁的位置可调。根据本申请的磁控溅射设备,在对应于靶材端部的位置设置第一磁铁,能够提高靶材端部的磁场强度,从而减小非侵蚀区,并且能够根据溅射的不同需求调节磁铁组件的形状,从而调节作用于靶材的磁场。
搜索关键词: 磁控溅射 设备
【主权项】:
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