[发明专利]可控硅检测电路及方法、集成芯片和照明驱动电路在审
| 申请号： | 202110956300.7 | 申请日： | 2021-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN113853039A | 公开（公告）日： | 2021-12-28 |
| 发明（设计）人： | 张胜有;向睿 | 申请（专利权）人： | 杰华特微电子（成都）有限公司 |
| 主分类号： | H05B45/30 | 分类号： | H05B45/30;H05B45/56 |
| 代理公司： | 杭州创智卓英知识产权代理事务所(普通合伙) 33324 | 代理人： | 张超 |
| 地址： | 610000 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种可控硅检测电路、可控硅检测方法、集成芯片和具有可控硅检测的照明驱动电路，该可控硅检测电路包括电压采样电路、触发电路和检测电路，通过电压采样电路采集母线电压，通过触发电路接收母线电压和第一电压阈值，当母线电压上升到第一电压阈值时，产生第一触发信号，通过检测电路设置时间阈值和第二电压阈值，通过检测电路接收第一触发信号，当第一触发信号有效时，检测电路根据母线电压、时间阈值和第二电压阈值判断可控硅的接入情况，如此，提高了电路的适用性。本申请解决了相关技术中功耗大且发热严重的问题，提高了安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 可控硅 检测 电路 方法 集成 芯片 照明 驱动 | ||
【主权项】：
暂无信息
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