[发明专利]一种基于空间分布拟合的γ光子多次散射校正方法在审

专利信息
申请号: 202110957666.6 申请日: 2021-08-19
公开(公告)号: CN113670961A 公开(公告)日: 2021-11-19
发明(设计)人: 范兼睿;刘小姣;徐风友;汪玥;张昕婷;沈高青;李志林;曹盼 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G01N23/20066 分类号: G01N23/20066;G06F17/15
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 210016*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于空间分布拟合的γ光子多次散射校正方法,该方法通过把γ光子多次散射看作γ光子多个单次散射的叠加,将γ光子采样数据按LoR在Root中的保存方式进行投影,分别对离散的γ光子单次散射分布和多次散射分布进行函数拟合,确定核函数的表达形式,计算探测系统中每个探测器对记录的γ光子多次散射数目,最后,将多次散射的γ光子从原始γ光子数据中剔除。本方法有效解决了由于散射的γ光子造成重建图像出现的星状辐射伪影、边缘模糊等图像失真情况,从而达到了γ光子多次散射校正的目的,并且提高了γ光子多次散射识别准确性。
搜索关键词: 一种 基于 空间 分布 拟合 光子 多次 散射 校正 方法
【主权项】:
暂无信息
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