[发明专利]一种设计自动测试方法、平台、存储介质和电子设备在审
| 申请号： | 202110969878.6 | 申请日： | 2021-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN113701811A | 公开（公告）日： | 2021-11-26 |
| 发明（设计）人： | 王卫;曾贤;滕旭;邓均;陆洋洋 | 申请（专利权）人： | 立讯电子科技（昆山）有限公司 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02;G01R31/00;G01P21/00;G01D18/00 |
| 代理公司： | 北京睿派知识产权代理事务所(普通合伙) 11597 | 代理人： | 刘锋;王巧玲 |
| 地址： | 215324 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种设计自动测试方法、平台、存储介质和电子设备，接收待检测部件的测试条件数据和测试指令，根据测试指令测试待检测部件的各项性能并生成包括各项性能测试参数的测试数据报告，对于测试参数不符合设计要求，根据待检测部件的测试条件数据按照轮询的方式获得数据库中已存储相似设计的已检测部件进行比对查询以确定不符合设计要求的测试参数的原因。该设计自动测试方法使得产品的设计验证合理化、规范化,最大可能地减小不合理的验证测试流程及误导性的测试数据的出现,提高了设计验证的准确性与可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 设计 自动 测试 方法 平台 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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