[发明专利]一种发光二极管超临界处理方法有效

专利信息
申请号: 202110984706.6 申请日: 2021-08-26
公开(公告)号: CN113437187B 公开(公告)日: 2022-01-25
发明(设计)人: 张冠张;李蕾;刘凯 申请(专利权)人: 北京大学深圳研究生院
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 郭燕;彭家恩
地址: 518055 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供的发光二极管超临界处理方法,通过根据发光二极管的半导体结构所具有的第一元素,选取第二物质;获取超临界态的第二物质;通过超临界态的第二物质对半导体结构进行晶体缺陷修复。可见,利用超临界态的第二物质具有的渗透性与流动性,通过超临界态的第二物质的元素,对发光二极管的半导体结构进行晶体缺陷修复,使得其半导体结构趋向于理想晶体结构,其光学性能更加贴近理想模型,由此,发光二极管的电光转换,以及产生的发光光谱,更加符合理想模型。
搜索关键词: 一种 发光二极管 临界 处理 方法
【主权项】:
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