[发明专利]一种确定并联电抗器气隙结构的方法和系统在审
申请号: | 202111008344.3 | 申请日: | 2021-08-31 |
公开(公告)号: | CN113673188A | 公开(公告)日: | 2021-11-19 |
发明(设计)人: | 王延召;万保权;张建功;干喆渊;周兵;倪园;胡静竹;赵军;路遥;李妮;谢辉春;刘兴发;张业茂 | 申请(专利权)人: | 中国电力科学研究院有限公司 |
主分类号: | G06F30/30 | 分类号: | G06F30/30;G06F111/10 |
代理公司: | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人: | 姜丽楼 |
地址: | 100192 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: |
本发明提供一种确定并联电抗器气隙结构的方法和系统。所述方法和系统根据并联电抗器的电抗值要求,基于并联电抗器的特征参数值计算所述并联电抗器的整体气隙长度值;根据所述整体气隙长度值 |
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搜索关键词: | 一种 确定 并联 电抗 器气隙 结构 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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