[发明专利]面发射激光器的测定方法、制造方法及测定装置、记录介质在审
| 申请号： | 202111015048.6 | 申请日： | 2021-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN114300947A | 公开（公告）日： | 2022-04-08 |
| 发明（设计）人： | 久保田良辅 | 申请（专利权）人： | 住友电气工业株式会社 |
| 主分类号： | H01S5/42 | 分类号： | H01S5/42;G01M11/00 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人： | 霍玉娟;张刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供面发射激光器的测定方法、制造方法及测定装置、记录介质，能够测定出面发射激光器的光的正确的光谱。面发射激光器的测定方法具有：使面发射激光器发光的步骤；以及使光学系统的光轴分别与所述面发射激光器的多个位置一致来分别对所述多个位置处的光谱进行测定的步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 发射 激光器 测定 方法 制造 装置 记录 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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