[发明专利]一种动态可重构芯片的单粒子功能错误测试方法及系统在审
| 申请号： | 202111015116.9 | 申请日： | 2021-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN113868043A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 于春青;赵元富;陈雷;宋立国;李同德;王亮;郑宏超;岳素格;彭惠薪;朱永钦 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 范晓毅 |
| 地址： | 100076 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种动态可重构芯片的单粒子功能错误测试方法，针对不同功能模块编写对应的测试程序，并按照设计的测试方案进行辐射试验，得到不同测试程序下单粒子功能错误截面联立解得各个独立功能模块的单粒子功能错误截面，为动态可重构芯片的单粒子辐射性能评估提供参考，为动态可重构芯片的抗辐射加固设计提供方向，本发明还公开了一种动态可重构芯片的单粒子功能错误测试系统，包括程控电源模块、上位机控制中心模块和控制区模块，为动态可重构芯片的单粒子功能错误测试方法的实现提供了稳定的测试环境。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 动态 可重构 芯片 粒子 功能 错误 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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