[发明专利]一种箔材延伸率尺寸效应的分析方法在审
| 申请号： | 202111021743.3 | 申请日： | 2021-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN113720684A | 公开（公告）日： | 2021-11-30 |
| 发明（设计）人： | 马振武;曹自洋;卢金斌;张元晶 | 申请（专利权）人： | 苏州科技大学 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08;G01N3/02;G01B21/32 |
| 代理公司： | 苏州三英知识产权代理有限公司 32412 | 代理人： | 周仁青 |
| 地址： | 215009 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种箔材延伸率尺寸效应的分析方法，以解决现有方法分析箔材延伸率尺寸效应时出现的误差率高的问题。本发明的方法包含以下步骤：步骤一：确定箔材的晶体结构类型；步骤二：分析确定集中变形区形成的时间；步骤三：分析确定箔材的主宰变形量；步骤四：根据t/d值确定箔材延伸率的大小。本发明适应于厚度小于100μm的金属箔材的延伸率尺寸效应的精确分析，指导选取高塑性的箔材，大幅提高大比表面积箔材成形件的成品率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 延伸 尺寸 效应 分析 方法 | ||
【主权项】：
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