[发明专利]面板阵列短路检测方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202111023791.6 | 申请日： | 2021-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN113469293B | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 成都数联云算科技有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 张欣欣 |
| 地址： | 610000 四川省成都市高新区中国(四川)*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本申请提供一种面板阵列短路检测方法、装置、电子设备及存储介质，属于数据处理技术的领域，方法包括：以无缺陷特征单元的特征区域作为参考特征区域，采用目标检测模型，得到待测面板图像的缺陷特征区域、良好特征区域以及其特征点，进而根据缺陷特征区域的位置，确定出与缺陷特征区域有关联的特征点作为参考点，基于特征单元规定的规格，构建参考点对应的特征单元，基于此，检测出缺陷特征区域与其所关联的参考点对应的特征单元的交集个数，并基于交集个数，判断缺陷特征区域的缺陷类型是否为短路，从而能够改善现有技术中无法准确判断识别到的阵列面板蚀刻过程中形成的缺陷的类型是否为短路的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 面板 阵列 短路 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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