[发明专利]验证方法及其装置、计算机存储介质以及处理器在审
| 申请号： | 202111027785.8 | 申请日： | 2021-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN113704126A | 公开（公告）日： | 2021-11-26 |
| 发明（设计）人： | 张毅;侯彬 | 申请（专利权）人： | 西安紫光国芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 霍文娟 |
| 地址： | 710065 陕西省西安*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种验证方法及其装置、计算机存储介质以及处理器。其中，该方法包括：利用预定函数对目标参数进行分类处理，得到分类后的目标参数；获取分类后的目标参数中的负类参数，并基于负类参数生成测试激励参数，其中，负类参数为使测试用例失败的参数；利用测试激励参数对待验证模块进行验证。本发明解决了针对相关技术中现有芯片验证领域存在浪费人力资源、验证效率低、进而推迟产品上市时间的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 验证 方法 及其 装置 计算机 存储 介质 以及 处理器 | ||
【主权项】：
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