[发明专利]测试插座及包括其的测试设备有效
| 申请号： | 202111039175.X | 申请日： | 2021-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN114252656B | 公开（公告）日： | 2023-06-16 |
| 发明（设计）人： | 吴昌洙 | 申请（专利权）人： | TSE有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京锺维联合知识产权代理有限公司 11579 | 代理人： | 罗银燕 |
| 地址： | 韩国忠清南道天安*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的测试插座包括：非弹性导电外壳，在与待测设备的端子相对应的位置形成有沿着厚度方向贯通的多个外壳孔，由非弹性导电材料制成；接地用导电部，以多个导电粒子沿着厚度方向在弹性绝缘物质内定向的形态形成，配置于上述外壳孔；信号用导电部及电力用导电部，以通过绝缘层绝缘的方式配置在上述外壳孔，在上述测试插座中，在配置上述接地用导电部的上述外壳孔的上部面与下部面之间设置接地连接端部，上述接地连接端部通过使上述非弹性导电外壳在上述外壳孔的内部面突出来形成。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 插座 包括 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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