[发明专利]一种通过化合物降解测定紫外光反应器内壁光反射率的方法在审

专利信息
申请号: 202111041232.8 申请日: 2021-09-07
公开(公告)号: CN113777077A 公开(公告)日: 2021-12-10
发明(设计)人: 孙佩哲;孟坛;吴世康 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N21/55 分类号: G01N21/55
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明属于环境工程水处理领域,具体涉及一种通过化合物降解测定紫外光反应器内壁光反射率的方法。主要包括:254nm紫外线灯管、不锈钢光反应器。采用此方法,可以简单快速的测定光反应器内壁的光反射率,为工程应用中紫外的高级氧化工艺反应器的设计和优化提供指导。
搜索关键词: 一种 通过 化合物 降解 测定 紫外光 反应器 内壁 反射率 方法
【主权项】:
暂无信息
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