[发明专利]一种通过化合物降解测定紫外光反应器内壁光反射率的方法在审
申请号: | 202111041232.8 | 申请日: | 2021-09-07 |
公开(公告)号: | CN113777077A | 公开(公告)日: | 2021-12-10 |
发明(设计)人: | 孙佩哲;孟坛;吴世康 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01N21/55 | 分类号: | G01N21/55 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明属于环境工程水处理领域,具体涉及一种通过化合物降解测定紫外光反应器内壁光反射率的方法。主要包括:254nm紫外线灯管、不锈钢光反应器。采用此方法,可以简单快速的测定光反应器内壁的光反射率,为工程应用中紫外的高级氧化工艺反应器的设计和优化提供指导。 | ||
搜索关键词: | 一种 通过 化合物 降解 测定 紫外光 反应器 内壁 反射率 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津大学,未经天津大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202111041232.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。