[发明专利]一种多值存储器的校准电路、校准方法和编程方法在审

专利信息
申请号: 202111045880.0 申请日: 2021-09-07
公开(公告)号: CN113744780A 公开(公告)日: 2021-12-03
发明(设计)人: 沈灵;严慧婕;任永旭;蒋宇;温建新 申请(专利权)人: 上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司;上海集成电路研发中心有限公司
主分类号: G11C13/00 分类号: G11C13/00
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 田婷
地址: 201821 上海市嘉定*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供的一种多值存储器的校准电路、校准方法和编程方法。校准电路包括多值存储器、参考可变电阻、灵敏放大器、编程开关、读开关、电流通路模块、逻辑控制模块和非易失性存储器,灵敏放大器包括第一输入端、第二输入端和输出端;多值存储器的一端与编程开关连接,另一端与灵敏放大器的第一输入端连接,多值存储器的一端还与读开关连接;编程开关与读开关并联;参考可变电阻的一端与编程开关连接,另一端与灵敏放大器的第二输入端连接。利用校准电路确定各阻值对应的校准结果,校准结果即过冲阻值,在写入数据的时候,可以将参考可变电阻的阻值减去对应的过冲阻值作为目标编程阻值,这样可以消除多值存储器在编程模式下存在过冲阻值的问题。
搜索关键词: 一种 存储器 校准 电路 方法 编程
【主权项】:
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