[发明专利]一种降低硅片表面颗粒的清洗设备及其清洗方法在审

专利信息
申请号: 202111060961.8 申请日: 2021-09-10
公开(公告)号: CN113877875A 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 安人龙 申请(专利权)人: 杭州中欣晶圆半导体股份有限公司
主分类号: B08B3/04 分类号: B08B3/04;B08B1/04;B08B13/00;H01L21/67;H01L21/687
代理公司: 杭州融方专利代理事务所(普通合伙) 33266 代理人: 沈相权
地址: 311201 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种降低硅片表面颗粒的清洗设备及其清洗方法,包括清洗箱,所述清洗箱的底部固定连接有底座,清洗箱的顶部开设有清洗槽,清洗箱的上设置有位置调节机构,清洗槽的内部设置有清洗机构,清洗箱的外部设置有定量补液机构,本发明涉及硅片清洗技术领域。该降低硅片表面颗粒的清洗设备及其清洗方法,通过设置有位置调节机构和夹持单元,利用驱动电机带动驱动转轴的转动,配合传动齿轮和传动齿条的传动,带动了提升板的移动,同时利用弹簧的恢复力对产品进行夹紧,不仅实现了对产品的定位和夹紧,而且可以对高度进行调节以便于后续的更换夹持,从而避免了清洗时对产品产生碰撞造成损坏,以此提高了产品的加工质量。
搜索关键词: 一种 降低 硅片 表面 颗粒 清洗 设备 及其 方法
【主权项】:
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