[发明专利]一种球面元件介质折射率的测量装置及测量方法有效
| 申请号： | 202111072337.X | 申请日： | 2021-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN113514426B | 公开（公告）日： | 2021-12-14 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 苏州高视半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 北京远大卓悦知识产权代理有限公司 11369 | 代理人： | 贺杰 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市高新区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请的实施例公开了一种球面元件介质折射率的测量装置及测量方法，测量装置包括光谱共焦传感器、光谱仪及调距机构，所述光谱共焦传感器包括白光点光源、半透半反射镜及色散物镜；所述半透半反射镜和色散物镜在白光点光源和被测球面元件介质之间沿光轴依次设置；所述调距机构驱使所述光谱共焦传感器与被测球面元件介质两者彼此靠近或远离以使得所述色散物镜与被测球面元件介质的距离沿着光轴变化4次；所述光谱仪与所述半透半反射镜的反射面相对，用于检测在被测球面元件介质上聚焦并反射回的上下两个表面的波长；根据检测得到的5个不同波长计算出被测球面元件介质的折射率曲线。根据本发明，其具有检测效率高、误差小的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 球面 元件 介质 折射率 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
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