[发明专利]芯片测试系统及方法有效
| 申请号： | 202111077426.3 | 申请日： | 2021-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN113533942B | 公开（公告）日： | 2021-11-30 |
| 发明（设计）人： | 姜一舟;黄戈;王白羽;李超;荣念辰;郑言龙;陈成舜;杨洁雨 | 申请（专利权）人： | 上海矽久微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 刘臣刚 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区中国(上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试系统及方法，芯片测试系统的第一测试模块、测试控制模块和测试判断模块与功能电路电连接，功能电路包括至少一个功能单元，第一测试模块包括与功能单元一一对应电连接的采样单元，采样单元包括采样寄存器、第一与门和第一或门；测试控制模块分别与各第一测试模块电连接，用于根据使能序列使能第一测试模块；第一测试模块用于根据测试判断模块发送的测试信号输出测试结果信号；测试判断模块用于根据测试结果信号确定功能电路是否正常。本发明实施例的第一测试模块包括的器件数量较少，结构简单，便于操作。同时，相较于使用昂贵的测试机台实验设备，本发明实施例中的器件较为常见、价格低廉，降低了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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