[发明专利]一种用于半导体刻蚀工艺的生产设备在审

专利信息
申请号: 202111080453.6 申请日: 2021-09-15
公开(公告)号: CN113990731A 公开(公告)日: 2022-01-28
发明(设计)人: 汪元宝 申请(专利权)人: 汪元宝
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32;H01L21/67
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 522031 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种用于半导体刻蚀工艺的生产设备,包括:壳体,所述壳体为中空结构,内部形成加工空间,所述壳体的底壁上设置有出气口,所述加工空间通过所述出气口与外部连通;过滤组件,所述过滤组件包括安装盘,所述安装盘可转动的配置于所述所述壳体下方,且所述安装盘上开设有多个安装口,多个所述安装口沿所述安装盘周向均匀分布,所述安装口内安装有过滤网,且所述安装口可随所述安装盘旋转,移动至所述出气口正下方;吸气组件,所述吸气组件包括气泵,所述气泵的进气口处于所述出气口的正下方。设备只需要在安装盘旋转期间停机,进而大大降低了设备的停机操作,而过滤网的清理或是更换等操作,均在设备正常运行情况下进行。
搜索关键词: 一种 用于 半导体 刻蚀 工艺 生产 设备
【主权项】:
暂无信息
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