[发明专利]一种基于超声兰姆波缺陷检测的成像方法及装置有效
| 申请号： | 202111082997.6 | 申请日： | 2021-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN113686959B | 公开（公告）日： | 2022-10-18 |
| 发明（设计）人： | 阎守国;黄娟;阚婷婷;张碧星 | 申请（专利权）人： | 中国科学院声学研究所 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04;G01N29/06 |
| 代理公司： | 北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙) 11309 | 代理人： | 陈霁 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种基于超声兰姆波缺陷检测的成像方法，包括：获取待检测板状结构的缺陷回波信号，缺陷回波信号至少包括第一模式的兰姆波回波信号和第二模式的兰姆波回波信号；对第一模式的兰姆波回波信号和第二模式的兰姆波回波信号进行聚焦处理，确定聚焦回波信号；基于聚焦回波信号，确定第一距离，第一距离表征缺陷回波信号对应的传感器所在位置与所述缺陷所在位置之间的距离；基于N个缺陷回波信号对应的第一距离，确定待检测板状结构的缺陷检测图像。本申请提供的基于超声兰姆波缺陷检测的成像方法可以实现对二维板状结构中缺陷的高精度成像。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 超声 兰姆波 缺陷 检测 成像 方法 装置 | ||
【主权项】：
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