[发明专利]一种卫星测控站及卫星测控方法、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202111087816.9 申请日: 2021-09-16
公开(公告)号: CN114137573A 公开(公告)日: 2022-03-04
发明(设计)人: 高恩宇;郇一恒;张学勇 申请(专利权)人: 北京微纳星空科技有限公司
主分类号: G01S19/02 分类号: G01S19/02;G01S19/07;G01S19/08
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 彭星
地址: 100094 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请提供了一种卫星测控方法,该方法包括:监控上位机将X频段的待跟踪卫星参数输入到GPS/BD差分定位仪,得到待跟踪卫星的轨道参数及姿态参数;根据空间跟踪算法对待跟踪卫星的轨道参数及姿态参数,进行北斗自动补偿校准;根据高精度轨道跟踪算法和待跟踪卫星的轨道参数及姿态参数,计算出测控反射面天线的测控方位和俯仰角;根据计算好的测控反射面天线的测控方位和俯仰角,获取卫星遥测信号,监控上位机对获取到的卫星遥测信号进行分析并显示结果。本申请根据GPS/BD差分定位仪校准后的待跟踪卫星的轨道参数和姿态参数,计算出卫星的测控方位和俯仰角,通过测控反射面天线根据高精度的卫星测控测控方位和俯仰角,实现了X频段卫星信号的接收或发送。
搜索关键词: 一种 卫星 测控 方法 设备 存储 介质
【主权项】:
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