[发明专利]存储器装置错误校验和清除模式以及错误透明度在审
申请号: | 202111091173.5 | 申请日: | 2016-08-04 |
公开(公告)号: | CN113808658A | 公开(公告)日: | 2021-12-17 |
发明(设计)人: | J.B.哈尔伯特;K.S.拜因斯 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | G11C29/42 | 分类号: | G11C29/42 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李啸 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 错误校验和清除(ECS)模式使存储器装置能够执行错误校验和纠正(ECC)并对错误计数。关联的存储器控制器用发送到存储器装置的触发器触发ECS模式。存储器装置包含多个可寻址存储器位置,其能被组织成段(诸如字线)。存储器位置存储数据并且具有关联的ECC信息。在ECS模式中,存储器装置读一个或更多存储器位置,并且基于ECC信息对于所述一个或更多存储器位置执行ECC。存储器装置对错误信息进行计数,错误信息包含指示具有至少阈值数量的错误的段的数量的段计数以及指示在任何段中的最大数量的错误的最大计数。 | ||
搜索关键词: | 存储器 装置 错误 校验 清除 模式 以及 透明度 | ||
【主权项】:
暂无信息
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