[发明专利]一种用于芯片缺陷检测系统图像获取的照明装置有效

专利信息
申请号: 202111096263.3 申请日: 2021-09-18
公开(公告)号: CN113758873B 公开(公告)日: 2023-08-04
发明(设计)人: 程坦;刘涛;邹爱刚;汪玮 申请(专利权)人: 中科海拓(无锡)科技有限公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/88;G01N21/95
代理公司: 无锡市观知成专利商标代理事务所(特殊普通合伙) 32591 代理人: 任月娜
地址: 214000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种用于芯片缺陷检测系统图像获取的照明装置,包括遮光罩、镜头固定座、同轴平行光源模块和漫射光源模块,所述镜头固定座安装在遮光罩的上端。本发明所述的一种用于芯片缺陷检测系统图像获取的照明装置,通过设有的同轴平行光源模块和漫射光源模块,当平行光线照射在芯片表面时,引脚面和中心焊盘等金属区域部分在平行光的照射下发生镜面发射,而塑封面由于其表面粗糙度较大,则发生漫反射,而由漫射光源模块的漫射LED灯珠发射的漫射光照射在芯片表面时,可以增强照射在塑封面表面的光照强度,使得芯片表面缺陷成像效果更加的均匀,可以提高芯片表面缺陷图像的质量,有利于后续更好的对图像进行处理和分析。
搜索关键词: 一种 用于 芯片 缺陷 检测 系统 图像 获取 照明 装置
【主权项】:
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