[发明专利]一种用于测量薄膜样品的正电子湮没寿命谱仪在审
| 申请号： | 202111096731.7 | 申请日： | 2021-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN113640852A | 公开（公告）日： | 2021-11-12 |
| 发明（设计）人： | 赵秋贺;罗迷;叶邦角;刘建党;张宏俊 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 张乾桢 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提出一种用于测量薄膜样品的正电子湮没寿命谱仪，包括反符合模块、伽马探测器、采集模块和数据处理模块，所述反符合模块、伽马探测器分别与采集模块相连，所述采集模块连接到数据处理模块；所述的伽马探测器由闪烁体和光电倍增器件组成；所述的反符合模块包括两片薄塑料闪烁体、光电倍增器件、待测薄膜样品和放射源；其中，两片薄塑料闪烁体将待测薄膜样品和放射源夹在中间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测量 薄膜 样品 正电子 湮没 寿命 | ||
【主权项】：
暂无信息
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