[发明专利]一种测试方法以及相关测试装置在审
| 申请号： | 202111101571.0 | 申请日： | 2021-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN113791365A | 公开（公告）日： | 2021-12-14 |
| 发明（设计）人： | 梁超业;刘党旗;赵晓磊;李行军;程建锋 | 申请（专利权）人： | 诚瑞光学（南宁）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/52 | 分类号： | G01R31/52;G01R31/28;G01D21/02;G02B7/02 |
| 代理公司： | 广东普罗米修律师事务所 44615 | 代理人： | 齐则琳;黄利平 |
| 地址： | 530031 广西壮族自*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测试方法以及相关测试装置，应用于自动对准设备中的测试装置。本发明的测试方法可以在传感器组件与镜头组件进行对准封装的正常制程测试中发现传感器组件的传感器芯片存在模拟电源电压AVDD对地短路的缺陷。本发明的测试方法包括：将所述测试装置的原输出电压提升至目标输出电压，所述原输出电压包括模拟电源电压，所述目标输出电压包括目标模拟电源电压；使用所述目标输出电压对安装在所述测试装置的传感器芯片进行预设时长的测试，得到测试结果；判断所述测试结果是否符合所述传感器芯片对应的测试要求；所述测试结果符合所述测试要求，则通过测试；若所述测试结果不符合所述测试要求，则未通过测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 方法 以及 相关 装置 | ||
【主权项】：
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