[发明专利]一种InGaN掺杂性能的仿真方法在审

专利信息
申请号: 202111114854.9 申请日: 2021-09-23
公开(公告)号: CN113919143A 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 单恒升;刘胜威;梅云俭;徐超明;郝晓东;马淑芳;许并社 申请(专利权)人: 陕西科技大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F119/02
代理公司: 西安鼎迈知识产权代理事务所(普通合伙) 61263 代理人: 李振瑞
地址: 710000*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种InGaN掺杂性能的仿真方法,包括:构建GaN晶体模型;对GaN晶体模型的原胞进行扩建,形成超胞;对超胞中的Ga原子使用In原子在不同位置上进行替换,以对超胞进行掺杂;对掺杂后的超胞进行优化;对优化后的超胞进行性质模拟,获得In原子掺杂下的InGaN合金的特性数据文件;对特性数据文件进行分析,获得InGaN合金材料的性能数据。本发明采用软件仿真的方式模拟InGaN的掺杂性能,无需进行实验,也无需各类昂贵的测试仪器,节约了大量时间与科研成本,为高性能InGaN储氢材料的研制提供技术积累,对推动碳中和技术的发展具有积极意义。
搜索关键词: 一种 ingan 掺杂 性能 仿真 方法
【主权项】:
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