[发明专利]一种芯片自动测试系统及芯片测试方法在审
| 申请号： | 202111128187.X | 申请日： | 2021-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN113900009A | 公开（公告）日： | 2022-01-07 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 杭州旗捷科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/02 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 杨雪 |
| 地址： | 310051 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片生产技术领域，具体公开了一种芯片自动测试系统及芯片测试方法，该芯片自动测试系统包括喂料单元、传输单元、至少一个测试单元以及装料单元；喂料单元用于储存第一容器，且可将第一容器中盛放的芯片转移至传输单元，传输单元将芯片传输至测试单元，测试单元对芯片进行测试作业；装料单元将完成测试作业的芯片装入第二容器。上述设置实现了芯片的全自动化生产，并且通过设置多个测试单元，能够实现单个测试单元进行生产或者多个测试单元同时生产，极大地提高了生产效率，满足了打印耗材芯片的生产需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 自动 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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