[发明专利]一种高精度光折变晶体干涉无损探伤设备及方法有效
| 申请号： | 202111131182.2 | 申请日： | 2021-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN114018825B | 公开（公告）日： | 2022-12-02 |
| 发明（设计）人： | 李震;刘鉴霆;周永祥;王亦军 | 申请（专利权）人： | 宝宇（武汉）激光技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17;G01N21/01;G01H9/00 |
| 代理公司： | 武汉大楚知识产权代理事务所(普通合伙) 42257 | 代理人： | 徐杨松;高源 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市江夏区东湖新技术*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种高精度光折变晶体干涉无损探伤设备，包括：分束镜布置在激光器的出射端，且其具有两个出射端；振镜布置在分束镜的其中一个出射端；1/2波片布置在分束镜的另一个出射端；偏振分光镜布置在1/2波片的出射端；第一1/4波片布置在偏振分光镜的出射端；第一场镜布置在第一1/4波片的出射端；光折变晶体布置在偏振分光镜的出射端；反光器件布置在偏振分光镜的出射端；第二1/4波片布置在反光器件的出射端与光折变晶体的入射端之间；光电探测器布置在光折变晶体的出射端；信号处理器分别与激光器、振镜和光电探测器电连接。有益效果是：激光激励和激光干涉仪用同一个光源；设备灵敏度高；能测量粗糙平面的振动信号。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高精度 折变 晶体 干涉 无损 探伤 设备 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于宝宇（武汉）激光技术有限公司，未经宝宇（武汉）激光技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111131182.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
