[发明专利]一种分子筛衰减性能测试设备在审
| 申请号： | 202111173757.7 | 申请日： | 2021-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN113917080A | 公开（公告）日： | 2022-01-11 |
| 发明（设计）人： | 宫晗;林贵平;曾宇;郭辰鑫;汤凯 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01N33/00 | 分类号： | G01N33/00;G01D21/02 |
| 代理公司： | 北京金恒联合知识产权代理事务所 11324 | 代理人： | 李强 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种分子筛衰减性能测试设备，包括引气处理系统、衰减系统、性能测试系统和测控系统；所述引气处理系统用于提供保证引气洁净度，控制引气压力、温度。所述衰减系统用于控制引气湿度。所述性能测试系统用于进行分子筛材料衰减和产品气检测。所述测控系统，用于对所述分子筛衰减性能测试设备提供传感器参数监测和控制器上位控制，为分子筛衰减性能测试试验提供软件平台。本申请可以对分子筛衰减性能进行测试，有利于对分子筛衰减状况下的工作状况进行试验研究，有利于衰减状况下分子筛的设计和研制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 分子筛 衰减 性能 测试 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学，未经北京航空航天大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111173757.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
